XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，全新下照式設計、性價比高、適用性強，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測，且能自動判定測試結果。
1）搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統
2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測
5）可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層最低檢出限：0.005μm
6）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
7）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度10%
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。
檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005um，最近測距光斑擴散度10%以內，凹槽深度測量范圍可達0-30mm是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型
XU-100廣泛應用于電鍍層分析、緊固件行業、五金行業、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件等多種行業
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