XAU是一款專業性能型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，全面升級下照式探測器，多模態人機交互，搭載先進的EFP算法軟件同時升級成新一代微納米芯片及元器件，在檢測多層合金、上下元素重復鍍層及滲層時更加精準、穩定。
高性能探測器：搭配高性能探測器，在檢測多層合金、上下元素重復鍍層及滲層時更加精準、穩定
變焦裝置及位置補償算法：可對各種異性凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm
自主研發EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精確測量
高集成光路系統：搭配微聚焦一體的高集成垂直光路交換裝置
先進的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
XAU廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董等多種領域
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