XTD-200高端全自動型膜厚儀_涂鍍層測厚儀_膜厚分析儀_熒光測厚儀

XTD-200是一款高端全自動型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，全新上照式設計，微聚焦，搭載可編程自動位移平臺，無人值守、自動檢測多樣品，且更加智能化，采用自主研發的AI影像識別功能可完成智能尋點，自動匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點的測試更加高效、智能。

微聚焦X射線裝置：搭載微聚焦X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.002mm2

變焦裝置及位置補償算法：可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm

自主研發的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精確測量

測量速度快效率高：一鍵測試、各部件置入下位機控制，搭載可編程自動化移動平臺，移動精度2um，一次編程坐標存儲無人值守檢測成百上千個樣品

高性能接收器：自由選配高性能接收器，無論微小樣品、超大工件還是密集型多點測試均可輕松應對，可檢測納米級厚度

自動智能檢測：大行程內無人值守自動測量，搭配AI影像識別，實現自動、智能、在線檢測

自動：可編程自動位移平臺，無人值守、自動檢測樣品;一次編程便可實現成百上千個樣品點的高效檢測

智能：實現自動AI影像智能尋點，編程檔案自動匹配測試位置，在面對大批同類型樣品檢測時，具備明顯的優勢

在線：根據客戶要求可個性化定制產線在線式檢測，為工業4.0提供在線檢測整體解決方案，提高檢測效率，實現全自動智能化工廠

XTD-200光譜測厚儀廣泛應用于半導體行業、新能源行業、5G通訊、環保行業、汽車行業、衛浴裝飾、航空航天、引線支架、電鍍行業等多種領域