XAD-200是一款全元素上照式X熒光光譜儀/環保檢測儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。
被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2
擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm
核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
配備全自動可編程移動平臺，可實現無人值守，對成百上千個樣品進行全自動檢測
涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）
RoHS、鹵素有害元素檢測
人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
標配四準直器自動切換
配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%
XAD-200廣泛應用于半導體行業、新能源行業、5G通訊、航天航空、環保行業、汽車行業、衛浴行業、精密電子等
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