XAVU是一款一機多用型X熒光光譜儀，配備智能抽真空系統，高性能的屏蔽性能去除大氣對低能元素的影響， 對Na、Mg、Al、Si、P等輕元素鍍層厚度及成分測試精度更高.測量C-U元素，Li-U的涂鍍層。
更廣的分析范圍：用于地礦、合金、及貴金屬等物質中Na(11)-U(92)元素的成分分析；可檢測Li(3)-U(92)的涂鍍層分析
無損變焦檢測技術：可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
自主研發EFP算法：先進的EFP算法不但對多層測試精準、校準方便，而且解決了多層合金、上下元素重復鍍層及滲層的檢測難題
智能超密閉真空系統：智能超抽密閉真空系統，排除環境對檢測結果的干擾，測量范圍更廣，測量結果更準確
先進的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
高性能探測器：高性能SDD硅漂移探測器，測量精度納米級
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