XTU-50B是一款專業性能型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，設計結構緊湊，模塊精密化程度高。
微聚焦加強型X射線裝置：可測試各類極微小的樣品，即使檢測面積為0.008mm2的樣品也可輕松、精準檢測
變焦裝置及位置補償算法：可對各種異性凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm
自主研發EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量
微米級移動精度：高精密XY移動滑軌，實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測，移動精度可達5um，輕松應對極微小樣品檢測
先進的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
鍍層厚度分析如此簡單
1.即放即測
C型樣品腔體設計便于放置樣品
放置樣品后，僅需幾秒便能出檢測結果
無損分析:無需破壞樣品
2.最佳設計，快速找點
高分辨率和高放大倍率的彩色數碼影像裝置，畫面清晰
通過樣品整體圖像快速找到測量區域
搭配高精度千分尺式移動滑軌，實現微小區域下精確、快速對準樣品焦點
3.一鍵測量
一鍵無標樣測試(無需鍍層標樣)
自動識別物料，規避誤選工作區帶來的測試誤差
先進的EFP算法
強大的EFP多元迭代數據庫，搭載變焦裝置及高集成光路系統，輕松解決各種異形件、微小樣品(最小達0.002mm2)、多鍍層、重復鍍層、合金鍍層的膜厚及成分的檢測
廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董等多種領域
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